第3回インフラメンテナンス展　出展のお知らせ

株式会社エーディーエステックは2025年7月2日(水)～4日(金)に東京ビッグサイトにて開催されます「自治体・公共 Week 2025　第3回インフラメンテナンス展」に出展いたします。
本展は自治体・公共向けの７つの専門展で構成された展示会です。「住みやすい街づくり」「活性化」「業務効率化」につながる製品・サービスを求めて、全国から自治体や官庁、公共機関が来場し、製造現場や工場内でのDX（デジタルトランスフォーメーション）を推進するIT製品やサービスが出展し、製品・サービスの比較検討や最新トレンドの情報収集を行っていただける展示会となっております。
ご多忙の折、誠に恐縮ではございますが、皆様のご来場を心よりお待ちしております。

開催概要

会期	2025年7月2日(水) ～ 7月4日(金)
開場時間	10:00～17:00 ※本展示会は入場無料の登録制になります。あらかじめこちらより来場者登録の上、お越しください。
会場	東京ビッグサイト　南展示棟 >>アクセス(別ウィンドウが開きます)
ブースNo.	9-32

自治体・公共 Week 2025　第3回インフラメンテナンス展　公式サイト
https://www.publicweek.jp/ja-jp.html#/

展示予定製品

ディープラーニング画像解析ソフト「NAIT（ナイト）」・・・実機デモ実施予定！産業用途向け外観検査AI
「NAIT Eye Mobile（ナイト・アイ・モバイル）」・・・実機デモ実施予定！タブレット活用AIリアルタイム検出システム
NAITクラウド・・・ディープラーニング画像解析ソフト　「NAIT（ナイト）」にクラウド版が登場、ご紹介

ディープラーニング画像解析ソフト　
「NAIT（ナイト）」

ディープラーニング画像解析ソフトウェア “NAIT” (ナイト)は産業用途（主にマシンビジョン）向けのディープラーニングをベースとした画像解析ソフトウェアで、難しいスキルを必要とせずアプリケーションベースでディープラーニングを利用することができる製品です。

「NAIT Eye Mobile
（ナイト・アイ・モバイル）」
-タブレット活用AIリアルタイム検出システム-

モバイル端末を使用してリアルタイムに AI 画像解析を行うことが可能な本システム。
端末のカメラで撮影した画像を、サーバ上の AI モデルで推論し、その結果をモバイル端末の画面へリアルタイムに表示いたします。
本システムにより、製品の外観検査や組立検査など、製造現場における AI 画像解析を用いた検査を簡易に行うことができるようになり、企業の生産性向上が期待されます。

当日は、お手に取ってタブレット端末上に表記されるデモ検査の推論結果を確認いただけます。
是非、NEWリリースのナイト・アイ・モバイルを会場で体験下さい。