CCD・CMOSカメラ、エリアカメラ・ラインセンサ等画像機器

OPIE ’22出展のお知らせ

【開催概要】

■会期 4月20日(水)~4月22日(金)

■会場 パシフィコ横浜 展示ホール

■ブース番号 A-08

 

株式会社エーディーエステックは、パシフィコ横浜にて4月20日(水)~4月22日(金)の3日間に渡り開催される「OPIE ’22」に出展いたします。

Teledyne DALSA社製の最新3Dレーザープロファイラ「Z-Trak2」のデモや、超高速エリアスキャンカメラ「Falcon4 CLHS」、近赤外ラインスキャンカメラ「Linea SWIR」の展示を行う予定です。

画像機器でお困りのことがありましたらぜひ弊社ブースにてご相談下さい。

皆様のご来場お待ちしております。

OPIE公式ホームページ
https://www.opie.jp/

来場事前登録はこちらから
https://www.opie.jp/visitors/register-en/

 

出展製品

高速、高分解能3Dレーザープロファイラ「Z-Trak 2」


高精度レーザーと3Dスマートセンサーの採用により正確かつ安定した計測を行える3Dレーザープロファイラです。
-位置決めや外観検査等の3次元計測に使用可能
-分解能、計測幅に応じた複数モデルをラインナップ(最大1μm分解能)
-5GigE採用により最大40,000プロファイル/秒という高速スキャンを実現
-キャリブレーション済のためすぐにご使用可能
-画像取得用SDK付属

 

超高速エリアスキャンカメラ「Falcon4-CLHS 11MP」

11MP@609fpsの高速画像取得を実現したグローバルシャッターエリアスキャンカメラです。
-高速フレームレートが必要な外観検査や動体追跡、動体解析に最適
-4480 x 2496解像度 6 x 6μm画素
-ROI設定により更なる高フレームレート化も可能
-グローバルシャッターにより移動する対象を歪まず撮像が可能
-最大ケーブル長100mまで対応可能なAOCケーブルを採用

 

SWIR波長域対応ラインスキャンカメラ「Linea SWIR」

swir-camera
SWIR波長域(950-1700nm)に特化した非冷却InGaAsラインスキャン カメラです。
-食品やウェハ、ソーラーパネルの検査に用いられる波長域に対応
-ラインスキャンカメラのため対象を停止せずに撮像が可能
-解像度は1024画素、512画素のモデルをラインナップ
-画像ボードが不要なGigEインターフェースを採用
-非冷却で小型な筐体(46(W)×46(H)×55(D)mm)

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